臺(tái)式X熒光光譜儀的重要一點(diǎn)就是X射線，我們將進(jìn)入儀器內(nèi)部，看X射線的運(yùn)行路徑，從而進(jìn)一步了解臺(tái)式X熒光光譜儀的工作原理。
臺(tái)式X熒光光譜儀目前已經(jīng)在地質(zhì)、采礦和冶金等部門廣泛使用。它對(duì)固體、粉末、液體、懸浮物、過(guò)濾物、大氣飄塵、薄膜樣品等進(jìn)行定性、定量剖析。
X射線是用高速電子轟擊原子的內(nèi)層電子，使之處于高激發(fā)狀態(tài)，同時(shí)外層的電子躍遷到缺少電子的內(nèi)層軌道。在此過(guò)程中會(huì)伴隨著以電磁波形式釋放的能量。這種釋放能量的電磁波能量大，波長(zhǎng)小，肉眼不可見，稱之為X射線。
光的路徑
臺(tái)式X射線熒光光譜儀的主要組成部分是一次X射線源和樣品室、分光晶體和平行光管、檢測(cè)器和記錄顯示儀器。一次X射線源用X光管，它產(chǎn)生的一次X射線轟擊樣品表面，使樣品激發(fā)出二次X射線。二次X射線經(jīng)平行光管變成一束平行光以后，投射到與平行光束呈夾角θ的分光晶體晶面上。射線在分光晶體面上的反射角與平行光束的夾角為2θ。分光晶體在分析過(guò)程中是回轉(zhuǎn)的，即θ是連續(xù)變化的，θ的變化會(huì)使反射光的波長(zhǎng)隨之變化，故2θ的具體值是定性分析的依據(jù)。這種變化波長(zhǎng)的反射線投射到與分光晶體聯(lián)動(dòng)的檢測(cè)器上，檢測(cè)器便輸出一個(gè)與平面分光晶體反射線強(qiáng)度成比例的信號(hào)，它是定量分析的依據(jù)。記錄顯示儀表的記錄紙移動(dòng)的距離與2θ有關(guān)，所以記錄下來(lái)的曲線就是熒光光譜圖，其橫坐標(biāo)是波長(zhǎng)，縱坐標(biāo)是光強(qiáng)。分析光譜圖就可以得到定性分析和定量分析結(jié)果。
以上就是我們這次講的關(guān)于臺(tái)式X射線熒光光譜儀內(nèi)部X射線從激發(fā)到被檢測(cè)的一個(gè)過(guò)程，對(duì)于更細(xì)致的了解臺(tái)式X熒光光譜儀應(yīng)該有很大幫助。創(chuàng)想儀器GLMY，一家專業(yè)制造銷售光譜儀的儀器廠家，我們將持續(xù)為大家?guī)?lái)更新鮮的內(nèi)容。